الرجاء الأنتظار ..
جامعة القصيم
عمادة البحث العلمي
 
نظام الحصاد البحثي
المشاركات بالبحوث كملصقاتPosters في المؤتمرات والندوات وورش العمل الدولية المحكمة في جامعة القصيم
فضلا مراعات التالي: يتم تحديث البيانات كل 10 ساعات ولذلك قد لا يظهر أي تعديل حدث في خلال تلك الفترة
شروط البحث: المشاركات بالبحوث كملصقاتPosters في المؤتمرات والندوات وورش العمل الدولية المحكمة
  • المشاركة في المؤتمرات والندوات وورش العمل

    • المشاركات بالبحوث كملصقاتPosters في المؤتمرات والندوات وورش العمل الدولية المحكمة

      • L. V. Poperenko, T. Lohner, V. S. Stashchuk, N. Q. Khánh, M. V. Vinnichenko, I. V. Yurgelevich, Essam Ramadan Shaaban, and D. Nosach.

        Ellipsometric study of ion implanted copper surface and its room temperature oxidation

        Fourth International Young Scientists Conference, Problems in Optics & High Technology Material Science (SPO), Kyiv, Ukraine, ..
        October 2003
      • L. V. Poperenko, Essam Ramadan Shaaban, N. Q. Khánh, V. S. Stashchuk, M. V. Vinnichenko, I. V. Yurgelevich, D. V. Nosach, and T. Lohner.

        Effect of ion irradiation on the optical properties and room temperature oxidation of copper surface

        Int. Conf. Spectroscopic Ellipsometry, Vienna.
        July 6-11 2003
      • P. Petrik, E. R. Shaaban, T. Lohner, G. Battistig, M. Fried, O. Polgár, and J. Gyulai.

        Ion implantation-caused damage in SiC measured by spectroscopic ellipsometry

        Int. Conf. Spectroscopic Ellipsometry, Vienna.
        July 6-11 2003
      • . V. Poperenko, T. Lohner, V. S. Stashchuk, N. Q. Khánh, M. V. Vinnichenko, I. V. Yurgelevich, Essam Ramadan Shaaban, and D. Nosach.

        Investigation of room temperature oxidation of ion implanted copper surface

        EMRS Spring Symposium, , Strasbourg, France..
        June 2003
      • P. Petrik, O.. Polgar, T. Lohner, M. Fried, N.Q. Khanh, E. R. Shaaban and J. Gyulai,.

        Ellipsometric characterization of shallow damage profiles created by Xe-implantation into silicon

        . IIT- 2002 conference, Taos, USA, IEEE proc. (2002) 63..
        2002
      • P. Petrik, O.. Polgar, T. Lohner, M. Fried, N.Q. Khanh, E. R. Shaaban and J. Gyulai,.

        Ellipsometric characterization of shallow damage profiles created by Xe-implantation into silicon

        . IIT- 2002 conference, Taos, USA, IEEE proc. (2002) 63..
        2002
      • L. V. Poperenko, T. Lohner, V. S. Stashchuk, N. Q. Khánh, M. V. Vinnichenko, I. V. Yurgelevich, Essam Ramadan Shaaban, and D. Nosach.

        Investigation of room temperature oxidation of ion implanted copper surface

        Third International Young Scientists Conference, Problems in Optics & High Technology Material Science (SPO), Kyiv, Ukraine.
        October 24-26 2002
      • Boubaker Askri.

        Optimized geometry for Monte Carlo simulation of external exposure to photons

        SousseTunisia 2d International Symposium of Spectroscopy.
        2007
 
 
  عدد زيارات هذا الموقع 4988104
جميع الحقوق محفوظة لعمادة البحث العلمي بجامعة القصيم ©